11 Aug 2015 Press Release

열확산도와 열전도도를 측정하는 섬광법 장비 : 상온~ 최대 1250℃까지

섬광법은 다양한 물질들의 열물성 측정이 가능한 정확하면서도 신뢰할 수 있는 효율적인 측정 방법입니다.

지난 2013년, 네취에서는 현재 인정받고 있는 LFA 467 HyperFlash®ZoomOptics기술을 이미 소개한 바 있습니다. 2년이 지난 현재, 네취에서는 다시 한번 새로운 LFA 467 HT HyperFlash®를 소개하게 되었습니다. 신뢰할 수 있는 LFA 467 플랫폼을 기반하여, 네취에서는 세계 최초로 상온에서부터 최대 약 1250℃까지 사용 가능한 Xenon 섬광법 장비를 개발하였습니다. 이는 실제 레이저 사용 없이 테이블 위에 설치할 수 있는 컴팩트한 사이즈의 장비로, 특히 고온 영역에 적용할 수 있는 발전된 모델 개발로 성공하였습니다. LFA 467 HT HyperFlash®ZoomOptics 기능과 함께 기준이 되며, 최대 2 MHz의 초고속 데이터 처리 속도 및 최소 20 μs 의 매우 짧은 펄스 시간들은 얇은 샘플과 고열전도성 물질에 대하여 최적화된 조건으로 측정할 수 있게 합니다. 네취는 정확한 측정 결과를 보장하며, 이번 섬광법 개발을 바탕으로 열물성 측정 분야에서 수 십 년간 유지했던 대표적인 위치를 다시 한번 견고히 다지겠습니다.